株式会社Nmediaは、令和8年9月9日（水）～  9月11日（金）に東京ビックサイト 南3ホール
にて開催された「第28回 自動認識総合展」に出展いたしました。

本展示会は、バーコードや2次元コードはもちろん、最新のRFID（ICタグ）、音声認識、バイオメトリクス、カードシステムなど、DX（デジタルトランスフォーメーション）の基盤となる最新の自動認識技術が一望でき、さらに近年急速に普及しているAIを用いた画像解析技術に特化したゾーンが設けられており、検品・外観検査の自動化や、人流解析などの最新事例を体験できる展示会です。

ご来場いただいた皆さまとは、実際の課題やご要望について多くの貴重なお話を伺うことができました。

会期中にお立ち寄りいただきました皆さまに、心より御礼申し上げます。

当日は限られたお時間の中でのご説明となりましたため、十分にお伝えしきれなかった点もあるかと存じます。

ぜひお気軽にお問い合わせくださいませ。

リーダー・データコレクター：MINDEO Japan株式会社↓

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AI外観検査：TRACKBOTT↓

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Nmediaグループは課題解決を通じて、業界の皆さまのお役に立てることを心より願っております。

今後とも何卒よろしくお願い申し上げます。